Клуб радиоконструкторов "Dinamic"
Антенна АА130 05 Антенна АА130 05Антенна АА130-05, представляет собой всеволновый комнатный вариант оригинального внешнего вида с усилителем. В ней объединены собственно две антенны: одна - слабонаправленный полуволновый вибратор с плечами телескопической конструкции для работы на MB, вторая - направленная...
Ослабление уровня сигнала Ослабление уровня сигналаОслабление уровня сигнала, проходящего внутрь здания, по сравнению с уровнем сигнала вне его зависит от конструкции и материалов стен, а также от того, на каком этаже находится комната. Результаты измерений уровня напряженности поля показали, что при разбросе значений напряженности, равном 14 дБ (в пять раз),...

Тестер для логических микросхем
В радиолюбительской и профессиональной практике часто возникает необходимость проверить исправность простых цифровых микросхем. Использовать для этого сложные логические тестеры и анализаторы вряд ли целесообразно. Вполне можно обойтись тестером для проверки логических элементов различных микросхем.

Логический тестер простых цифровых микросхем комбинационной логики позволяет проверять исправность каждого в отдельности логического элемента (ЛЭ) микросхемы с логическими функциями двух входных переменных 2И, 2ИЛИ, 2ИСКЛ. ИЛИ и их инверсиями для популярных серий ТТЛ и КМОП. К ним относятся микросхемы функциональных типов ЛАЗ, ЛА8, ЛА9, ЛА11-ЛА13, ЛА18, ЛА21, ЛА23; ЛЕ1, ЛЕ5, ЛЕ6, ЛЕЮ, ЛЕ11; ЛИ1, ЛИ2, ЛИ8; ЛЛ1, ЛЛ2, ЛЛ4; ЛП5, ЛП8, ЛП12; ТЛЗ серий ТТЛ (ТТЛШ) К155, К158, К131, К531, К555, КР1531, КР1533и других, а также серий КМОП КР1554, 74НС (1564) и типов КТЗ, ЛА7, ЛЕ5, ЛИ2, ЛП2, ЛП14, ТЛ1 серий КМОП К176, К561, 564, КР1561. Прибор позволяет определять логическую функцию (в пределах шести указанных) и цоколевку микросхем с двухвходовыми ЛЭ. Кроме того, тестером можно проверять исправность работы биполярных транзисторов, диодов и различных р-n переходов.

Простота конструкции и удобство пользования им, наряду с достаточно широкими функциональными возможностями и компактным с исполнением автономным питанием от батареи "Корунд", позволяют использовать этот прибор не только в любительской радиолаборатории или, например, при покупке приборов на радиорынках, но и для входного контроля при мелкосерийном производстве РЭА.

Генератор импульсов на DD1.1, DD1.2 с частотой около 20 Гц формирует с помощью двух двоичных делителей частоты на триггерах DD2.1, DD2.2 периодическую тестовую последовательность логических сигналов для формирования таблицы истинности логической функции двух входных переменных 00, 01, 10, 11.

Из этой тестовой последовательности образуются опорные сигналы логических функций 2И (элемент DD3.1), 2ИСКП.ИЛИ (элемент DD1.3) и 2ИЛИ (элементы DD3.2, DD3.3). Выбор функции осуществляется с помощью переключателя SB3, элемент DD3.4 инвертирует сигнал функции, а инверсия функции выбирается переключателем SB4.

Одновременно тестовая последовательность с неинвертирующих выходов триггеров DD2.1, DD2.2 подается на входы всех ЛЭ проверяемой микросхемы DD5, размещенной в контактной панели XS1. Транзисторы VT1, VT2 усиливают ток низкого логического уровня до величины, достаточной для подключения четырех входов ЛЭ серий ТТЛ К155, К531 и др.

Резисторы R4-R11 защищают прибор и проверяемую микросхему при неправильном ее включении, исключают влияние неисправных (короткозамкнутых на выводы питания) входов микросхемы на другие входные цепи и дополнительно ограничивают величину ее входных токов. Если тестер используется для проверки микросхем только КМОП серий, то сопротивление резисторов R4-R11 лучше увеличить до 1 МОм для контроля входных токов порядка одного микроампера, а элементы VT1, VT2, R2, R3 можно исключить.

Выходные сигналы с проверяемых ЛЭ микросхемы DD5 подаются на входы ЛЭ сравнения микросхемы DD4. Резисторы R13-R16 проверяют нагрузочную способность выходов DD5 (для микросхем КМОП) и необходимы для проверки ЛЭ с выходами типа "открытый коллектор" (ТТЛ).

На другие входы ЛЭ сравнения поступает опорный сигнал выбранной логической функции с переключателя SB4, а к выходам ЛЭ сравнения подключены светодиоды HL1- HL4, причем токоограничивающие резисторы для светодиодов не нужны, поскольку выходной ток микросхемы DD4 ограничен на уровне нескольких миллиампер.

При равенстве проверяемого и опорного логических сигналов выходной сигнал ЛЭ сравнения равен нулю и светоди- од не светится. Если же проверяемый и опорный сигналы различны, то соответствующий ошибочному проверяемому сигналу ЛЭ сравнения высоким выходным уровнем включает светодиод, индицируя неисправность данного ЛЭ (точнее, отличие логической функции элемента от опорной).

Для облегчения идентификации неисправного ЛЭ светодиоды удобно расположить вблизи соответствующих выводов проверяемой микросхемы (условно показанных на правом поле рисунка) контактной панели с DD5. При полностью исправной микросхеме DD5 все светодиоды погашены, а при ошибке хотя бы в одном ЛЭ будет мигать или постоянно светиться один или несколько светодиодов, сигнализируя о неисправности. Таким образом, данный логический тестер позволит выявить один неисправный ЛЭ при остальных годных, что может оказаться полезным в радиолюбительской практике.

Переключателями SB1 и SB2 осуществляется выбор цоколевки проверяемой микросхемы в соответствии с приводимой таблицей. Если цоколевка или логическая функция проверяемой микросхемы неизвестны, то их можно определить (в пределах функциональных возможностей данного тестера), перебирая положения переключателей SB1, SB2, SA3, SB4.

Этим логическим тестером можно также проверять исправность биполярных транзисторов, диодов и различных р-п переходов. Для этого в схему введены элементы SB5, R17, R18, HL6, HL7 и зажимы для подключения транзисторов "Э", "Б", "К" и диодов "VD". Переключателем SB5 тестер переводится из режима проверки микросхем в режим проверки транзисторов.

При верхнем по схеме положении переключателя SB5 опорный логический уровень подается только на элемент DD4.4, а зажимы эмиттера "Э" и базы "Б" через резисторы R17, R18 "опрашиваются" сигналами тестовой последовательности с неинвертирующих выходов триггеров. На другой вход элемента сравнения DD4.4, соединенный с зажимом "К" (коллектор), через резистор R16 поступает уровень, противофазный "эмиттерному" (с инверсного выхода триггера DD2.1).

При подключении к этим зажимам одноименных выводов исправного транзистора на его коллекторе формируется периодический сигнал, соответствующий логической функции 2ИЛИ-НЕ для транзисторов структуры n-p-п и 2И-НЕ для транзисторов структуры р-п-р, т.е. выбор типа проводимости проверяемого транзистора осуществляется переключателями SB3, SB4.

В одной из четырех фаз сигналов опроса транзистор включается по схеме с общим эмиттером (если пренебречь защитным резистором R17); при этом резистор R18 задает ток базы транзистора, а резистор R16 является его коллекторной нагрузкой. Если коэффициент усиления тока базы проверяемого транзистора меньше величины 0.6R18/R16 (для указанных номиналов - меньше 10), то тестер будет считать его неисправным. Меняя сопротивление резистора R18, можно устанавливать критерий отбора транзисторов по коэффициенту усиления тока. Таким образом, при годном транзисторе все светодиоды будут погашены, а в остальных случаях светодиод HL4 будет мигать.

Блок питания тестера Испытатель диодов с автоматическим определением полярности подключения аналогичен описанному. При подключении диода (или...
Фирма Wandel & Goltermann Фирма Wandel&Goltermann (Германия) обеспечивает многих потребителей в мире технолопгческими приборами для измерения электромагнитного...
2010-2012 © Все права защищены
При копировании информации обратная ссылка обязательна